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国产28nm电子束量测设备成功出机,助力半导体设备国产化再进一步

2025-08-19
光刻机
正面
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国产首台28纳米关键尺寸电子束量测量产设备由无锡亘芯悦科技成功研制并出机,该设备在电子光学系统等核心领域实现完全自主化,将用于国内产线验证。此突破填补了我国半导体量检测领域技术空白,是继国产电子束光刻机后又一重大国产化进展,无锡市工信局表示将加速推进国产设备产业化。
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