助焊剂残留威胁HJT电池性能 研究指出关键工艺缺陷

韩国电子技术研究院研究发现，市售助焊剂在HJT组件制造过程中残留物会腐蚀ITO电极，导致电池长期性能下降。实验显示，助焊剂残留物在湿热环境下引发ITO层电导率严重损失，尤其背面ITO层因锡含量高更易受损。研究提出通过干燥和吹气工艺可减少污染。此前新南威尔士大学等机构也确认HJT电池ITO层对助焊剂敏感，易造成功率损失。相关研究可能影响HJT电池技术可靠性评估。